PWC124/PWC184/PWC214/PWC254进口万分之一电子分析天平/PWC124内校准电子分析天平
全新设计,专业打造的PWC系列分析天和PGC系列精密天平:新颖别致的人性化外观设计,完备齐全的称量功能和引领潮流的完美特性,使得这两款天平称为您实验的佳选择。PWC和PGC两系列天平均采用了新的软件操作系统,包含简洁精巧的人机对话界面和智能化功能设置,操作便
梅特勒天平
大称量范围:210 g 可读性:0.0001 g 线性:± 0.0003 g 重复性:0.0001 g 稳定时间(典型):4 s 去皮范围:0...210 g 外部砝码校准:200 g
电子分析天平jf1004 jf1204
JF系列精密电子天平采用新一代电磁式传感器,通过高性能单片微处理机控制,使产品精度有了可靠保障,高清晰大液晶显示屏易于观察和适用于各种环境。是集精准、稳定
XP205DR超越系列至尊型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。
CPA分析天平
新一代得到证实的赛多利斯能力系列实验室天平,赛多利斯 CP 系列 的可靠性在日常实验室操作过程中赢得了用户,再一次设定了在科技,质量和功能领域的标准。