光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能全面,技术先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样
高性价比x射线异物检测机
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质构分析仪
美国Brookfield公司70多年来提供高品质和高性价比的测量仪器在世界上早已享有盛誉。无论您是考虑粘度计、流变仪、质构分析仪还是粉体流动测试仪,卓越的客户支持都将是您选择Brookfield的不可或缺因素。
KSV NIMA LB 膜分析仪
KSV NIMA LB膜分析系统是由计算机控制的高性能的LB镀膜系统,其应用广泛、操作灵活。 系统结构模块化,可扩展升级的硬件和软件;整个系统框架型结构,允许添加其它附属装置,例如:可以与布鲁斯特角显微镜BAM联用;高质量的硬质熔结槽体;可进行膜的荧光
Brewster角显微镜
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